Le CT2M présent au 17ème Congrès International de Métrologie

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La 17ème édition du Congrès International de Métrologie (CIM) s’est déroulée du 21 au 24 septembre 2015 à Paris.

Cet évènement a rassemblé près d’un millier d’experts venus des quatre coins du monde autour de centaines de conférences, de présentations et de posters sur de nombreux domaines (agroalimentaire, biologie médicale, qualité de l’eau, métrologie dimensionnelle, etc.).

Les présentations du CT2M

Les consultants du CT2M ont présenté 3 posters consultables en bas de cette page.

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Organisation d’une comparaison inter-laboratoires dans le domaine des essais sur les antiseptiques et les désinfectants chimiques

 

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Comparaison de méthodes pour l’estimation de l’incertitude sur une fonction d’étalonnage

 

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Label Fiabilité Mesures : une alternative pour mettre en valeur les compétences des laboratoires de recherche

Les faits marquants

Pour les absents, un bref récapitulatif des événements marquants de cette 17ème édition du CIM 2015 a été rédigé dans la lettre du CT2M n°46.

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