Le CT2M présent au 17ème Congrès International de Métrologie

La 17ème édition du Congrès International de Métrologie (CIM) s’est déroulée du 21 au 24 septembre 2015 à Paris. Cet évènement a rassemblé près d’un millier d’experts venus des quatre coins du monde autour de centaines de conférences, de présentations et de posters sur de nombreux domaines (agroalimentaire, biologie médicale, qualité de l’eau, métrologie dimensionnelle, En savoir plus surLe CT2M présent au 17ème Congrès International de Métrologie[…]

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